硅基芯片及模组系列
第三代半导体芯片及模组系列
质量方针
追求卓越品质 超越客户期望
To pursue excellent product quality and exceed customer expectation
可靠性标准
我们一直致力于向客户提供高性能，高可靠性的产品，产品满足以下可靠性要求
工控应用产品考核标准（单管）
| Rel item | Full name | Reference | Conditions | Read-out |
|---|---|---|---|---|
| HTRB | High Temperature Reverse Bias Test | JESD22-A108 | Tj=Tvjmax，VCE=80%VCEmax，VGE=0V | 1000h |
| HTGB | High Temperature Gate Bias Test | JESD22-A108 | Tj=Tv jmax，VCE=0V，VGE=VGEmax | 1000h |
| H3TRB | High Humidity High Temperature Reverse Bias | JESD22-A110 | Ta=85°C，RH=85%，VCE=80%VCEmax up to 100V，VGE=0V | 1000h |
| IOL | Intermittent Operational Life | MIL-STD-750 | ton=5min，toff=5min, △Tj=100°C,Tjmax=Tvjmax3000cycles | / |
| TC | Temperature Cycle | JESD22-A104 | 55°Cto 150°C,Dwell≥15min,1000cycles | / |
车规应用产品摸底考核标准（模块）
| Rel item | Full name | Reference | Conditions | Read-out |
|---|---|---|---|---|
| HTRB | High Temperature Reverse Bias Test | XCZ-QW-PE-02 | Tj= Tjmax in datasheet， Vds = 80% BV rating，VGE=0V | 168hr 500hr 1000hr |
| HTGB | High Temperature Gate Bias Test | GB/T 29332-2012 | Tj= Tjmax in datasheet，Vge= 100% VGS rating，VCE=0V | 168hr 500hr 1000hr |
| H3TRB | High Humidity High Temperature Reverse Bias | JESD22-A110 | Ta=85℃，85%RH，VCE =80V | 168hr 500hr 1000hr |
| TC | Temperature Cycle | JESD22-A104 | -40℃/30min~125℃/30min，1000cycle | 168hr 500hr 1000hr |
| PCsec | Power Cycle second | IEC 60749-34:2011 AQG-324 | ΔTj=100℃，Tvjmax=150℃，ton/toff=5sec/5sec 50000 cycles | 50000 cycles |
| PCmin | Power Cycle minutes | IEC 60749-34:2011 AQG-324 | Tvj=Tvjopmax，Iload>=0.85Irate，ΔTc=100℃ Ton<=1.5min，Toff<=4.5min，20000 cycles | 20000 cycles |
| MV | Vibration | IEC 60068-2-6 | 1. sinusoidal vibration(6G): 100Hz , 30m/s2 200Hz , 60m/s2 440Hz , 60m/s2 2. wide-band ramdom vibration(10G): 10Hz - 2000Hz, 96.6m/s2 3. 22h for each spatial axis | 22h for each spatial axis |
客户服务
24小时响应服务体系
芯长征始终重视客户意见，承诺为所有中国区客户提供快速、优质的售后服务。我们保证客户意见的反馈渠道通畅、专用；我们保证24h时效的意见评估和反馈，同时协调研发团队充分支持客户需求；我们保证特定质量控制流程以处理产品质量问题。芯长征坚持倾听客户的声音，以优质的服务满足客户多样化需求。
客退处理流程规范
